现有团队成员覆盖技术研发、产品设计、项目管理、市场运营、财务合规等关键环节，具备从技术攻关到成果转化、从方案设计到商业落地的全链条执行能力。
本产品为三层复合结构，用于太赫兹成像与无损检测系统的反射参考校准
标签整体设计为正方形，边长严格控制在 2 mm × 2 mm，边长误差±0.05mm。
标签总厚度为 0.5 mm。
金（Au）反射层厚度：100 nm。
铬（Cr）粘附层厚度：20 nm。
二氧化硅（SiO₂）衬底厚度：0.5 mm。
太赫兹反射率：在设计的太赫兹频段（通常指0.1 THz ~ 10 THz）范围内，该标签表面的反射率应高于 90%。该高反射特性源于表面金膜的优异导电性及其特定的厚度设计，确保其作为高对比度参考点的有效性。
位于标签最外层，主要功能是实现对入射太赫兹波的高效反射，以确保探测信号的强度
位于金膜与衬底之间，用于增强顶层金膜与底层基片的附着牢度，防止膜层剥落
作为标签的基底，为上层薄膜提供平整的机械支撑，保证标签的结构稳定性
